phone+49 208 941078-0    email action unread sim@sim-gmbh.de

  • SIM 1

LC-DIP-APPI/MS

Neues DIP-APPI/MS zur Analyse unpolarer Substanzen mit höherer Empfindlichkeit

Das bewährte Direkt-Einlass-System (DIP) wurde mit der Ionisierungsmethode APPI (Atmospheric Pressure Photoionization) gekoppelt, um unpolare Substanzen in einem breiten Massenbereich mit hoher Empfindlichkeit zu erfassen. Das innovative DIP-APPI-System für hochauflösende Massenspektrometrie arbeitet mit einer neuartigen Ionisierungskammer, die eine Vakuum-UV-Lampe zusammen mit einem APCI-Sprayer enthält.

  Logo BMWi de ska

Die Analyten werden über eine Schubstange mit beheizbarer Probenspitze in die Ionisationskammer eingebracht, über ein Temperaturprogramm verdampft und anschließend mit der Vakuum-UV-Lampe ionisiert. Die Photoionisation bei Umgebungsdruck (APPI) erfolgt beim Direkt-Einlass-System (DIP) - im Gegensatz zur LC-APPI-MS-Messung - in einer nahezu wasser- und lösungsmittelfreien Ionisationskammer. Das schließt Verfälschungen durch Lösungsmittel aus und erhöht die Sensitivität der Messung, da auch nur wenig Addukte und Fragmente entstehen. Geeignet ist diese Ionisierung vor allem für unpolare Verbindungen, die mit ESI und APCI nicht gut erfasst werden können.

Da auf die Probenvorbereitung weitgehend verzichtet werden kann und die Chromatographie bei der DIP-MS-Messung nicht erforderlich ist, sind die Messzeiten relativ kurz und das Verfahren sehr gut für Screening-Verfahren geeignet. Darüber hinaus steht zusätzlich die normale LC/MS-Messung mit APCI zur Verfügung; zwischen beiden Modi kann ohne Umbauarbeiten, nur über Software-Einstellungen hin und her gewechselt werden.

Merkmale

  • Direkt-Einlass (DIP) für flüssige und feste Proben
  • automatische Einführung der Probe in die APPI-Quelle über eine Schubstange mit beheizbarer Probenspitze
  • Temperaturprogramm - Rampen mit Heizraten bis zu 2 °C/s auf 400 °C
  • komfortable Bedienung über DIP-Software (Temperaturprogramm) und Agilent Software (zur Aufnahme und Auswertung der Massenspektren)
  • gut geeignet für schnelle Screenings
  • optional mit PAL-Autosampler zur Automatisierung und Online-Analytik (für feste und flüssige Proben)

Kontaktdaten

Scientific Instruments Manufacturer GmbH
Im
Erlengrund 21-23, 46149 Oberhausen

Tel: +49 (0)208 - 94 10 78-0
Fax: +49 (0)208 - 94 10 78-88
E-Mail: sim@sim-gmbh.de
Website: www.sim-gmbh.de

Um unsere Webseite für Sie optimal zu gestalten und fortlaufend verbessern zu können, verwenden wir Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen zu Cookies erhalten Sie in unserer Datenschutzerklärung!
Datenschutzerklärung Ok